Перейти к содержанию
Форум химиков на XuMuK.ru.

Поиск

Показаны результаты для тегов 'измельчение'.

  • Поиск по тегам

    Введите теги через запятую.
  • Поиск по автору

Тип контента


Форумы

  • Учащимся
    • Решение заданий
  • Химикам
    • Общий
    • Химия в быту
    • Вопрос-ответ
    • Органическая химия
    • Неорганическая химия
    • Биохимия
    • Токсикологическая химия
    • Фармацевтическая химия
    • Физическая химия
    • Аналитическая химия
    • Коллоидная химия
    • Электрохимия
    • Синтез соединений
    • Химическая технология
    • Полимеры
    • Техника безопасности
    • Книги
    • Выставки и конференции
    • Учеба
    • Работа
    • Барахолка
    • Курилка
    • О сайте и форуме

Поиск результатов в...

Поиск контента, содержащего...


Дата создания

  • Начало

    Конец


Дата обновления

  • Начало

    Конец


Фильтр по количеству...

Регистрация

  • Начало

    Конец


Группа


Telegram


VK Мессенджер


Город

Найдено 2 результата

  1. Коллеги, прошу совета по корректной интерпретации Mott–Schottky (MS) анализа для полупроводниковых материалов. Работаем с тонкими и толстоплёночными покрытиями (g-C₃N₄, TiO₂, гибридные системы) на FTO, измерения проводятся методом электрохимической импедансной спектроскопии с построением MS-графиков (1/C² vs E) в диапазоне частот ~2–10 кГц, с электродом сравнения Ag/AgCl. Возникают следующие вопросы: Как корректно выбирать «истинный» линейный участок MS-графика? Часто наблюдаются несколько квазилинейных областей при разных потенциалах. Правильно ли использовать только участок при достаточно большом обратном смещении, и какие визуальные/физические критерии указывают на область, соответствующую ёмкости области пространственного заряда, а не влиянию поверхностных состояний или слоя Гельмгольца? Какую роль играет частота измерений? Насколько корректно считать MS-анализ высокочастотным методом и при каких частотах вклад ёмкости Гельмгольца и поверхностных состояний можно пренебречь? Как интерпретировать частотную зависимость плоского потенциала? Подготовка и нанесение образцов для MS-анализа. Какие подходы считаются наиболее корректными для формирования воспроизводимых фотоэлектродов (drop-casting, doctor-blade, electrophoretic deposition)? Как критично влияют толщина плёнки, пористость, связующее (например, Nafion) и качество контакта с FTO на форму MS-графика и определение flat-band потенциала? Существуют ли практические критерии, позволяющие понять, что измеряется ёмкость полупроводника, а не межзерновые или контактные эффекты? Связь MS с другими методами: Как корректно сопоставлять результаты MS (flat-band, тип проводимости) с энергетическими уровнями, определяемыми методом XPS? Какие допущения обычно принимаются при таком сравнении?
  2. Добрый день! Ищем ступку в лабораторию для измельчения оксидных материалов, среди которых могут быть и весьма твердые. Цель - минимизировать загрязнение образца материалом ступки, при этом обеспечить хорошее измельчение. Раньше работал только с агатовыми, помню, что в них иногда происходил существенный намол оксида кремния. Исходя из этого решил поискать что-то более твердое - помню, что существуют циркониевые и карбидные стаканы для мельниц, однако ступки такие диаметром хотя бы 10 см найти оказалось очень непросто, особенно в РФ. Дальше вспомнил про корунд, такие ступки оказывается тоже есть, а учитывая, что у корунда твердость 9 по Моосу, что значительно больше агата, решил, что они могут подойти. Однако затем я встретил на сайте одной из компаний следующую фразу: "по сравнению с тугоплавким стеклом, твердым фарфором и спеченным корундом намол существенно ниже и является минимальным". Вопрос: Подскажите, пожалуйста, твердость является не единственным параметром, определяющим степень загрязнения образца при измельчении твердых оксидов? В агатовой ступке действительно намол меньше, чем в корунде, или это дезинформация со стороны компании? Также, возможно, есть какие-то общие рекомендации по выбору материалов ступок при работе с твердыми веществами?
×
×
  • Создать...

Важная информация

Мы разместили cookie-файлы на ваше устройство, чтобы помочь сделать этот сайт лучше. Вы можете изменить свои настройки cookie-файлов, или продолжить без изменения настроек.