venelt Опубликовано 13 Мая, 2010 в 19:40 Поделиться Опубликовано 13 Мая, 2010 в 19:40 Предлагаю помощь в исследовании материалов с помощью растрового электронного микроскопа высокого разрешения (до 1 нм), увеличение до 650000 крат. Возможно изучение микроструктуры поверхности микрообразцов, исследование порошков, наночастиц, нановолокон, шлифов в режиме контраста от состава, растворов после высыхания и др. Андрей venelt@list.ru, icq 241277974. Москва. Ссылка на комментарий
eavel Опубликовано 8 Сентября, 2010 в 05:17 Поделиться Опубликовано 8 Сентября, 2010 в 05:17 Здравствуйте, очень заманчивое предложение, а не могли бы Вы более подробно рассказать о возможностях растрового микроскопа. В частности меня интересует возможность исследования органических нерегулярных полимеров (состав также варьируется). Елена. Ссылка на комментарий
ukr_chem Опубликовано 28 Июля, 2014 в 14:01 Поделиться Опубликовано 28 Июля, 2014 в 14:01 Есть ли у кого то литература по электронному сканирующему микроскопу Jeol-840? Ссылка на комментарий
Рекомендуемые сообщения
Для публикации сообщений создайте учётную запись или авторизуйтесь
Вы должны быть пользователем, чтобы оставить комментарий
Создать аккаунт
Зарегистрируйте новый аккаунт в нашем сообществе. Это очень просто!
Регистрация нового пользователяВойти
Уже есть аккаунт? Войти в систему.
Войти